設備簡介



[晶片測試主選單] [晶片組] [晶片中心]

  IMS 積體電路測試系統(IMS Logic Master )

 1、系統規格


 2、系統軟體功能


 3、系統模組Module)


 4、Mixed-Signal IC 測試儀器組


 5、Socket Card 種類及數量


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  探針站 (Wentworth Probe Station)

 1、防震桌

 2、顯微鏡


 3、雷射切斷機


 4、螢幕


 5、探針座


 6、低負載探針座 (for Pico Probe)


 7、探針


 8、其它相關配備


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數位訊號分析儀(Tek 602A Digitizing Signal Analyzers)

 1、主機


 2、模組 (Tek 11A52)


 3、模組 (Tek 11A72)


 4、探針 (Tek P6204)


 5、探針 (Tek P6217)


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半導體參數分析器

HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer

 1、主機


 2、擴充器


 3、電壓源選擇器


 4、附屬裝置


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其他測試儀器

1、任意波形產生器(PRAGMATIC 2411A)

Arbitrart Waveform Generator

    取樣頻率          :2MHz ,4Digits <50ppm
    振幅解析度        :16 Bits 65536點
    方波RISE/Fall 時間: < 150ns 
    THD+Noise         : < 85dB (@2MHz clock)
    操作模式          :cycle burst, Log.sweep,interal
                       trigger, gate, external width
    介面              :RS_232 /GPIB

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2、可程式波形合成器(ANALOGIC 2020)

Polynomial Waveform Synthesizers

  取樣頻率      :25MHz&100MHz Mode  
  振幅解析度     :12Bits,512K點,<50ppm
  Output Noise   : < 10mVrms 
  THD +Noise    : < 85dB (@2MHz clock)
  標準操作模式    :SQUARE SINE TRIANGLE NOISE WAVEFORM
  任意波形操作模式  :Polynomial 
  介面        :RS232/ GPIB

3、多端電源供給器(HP 6625A)

(Multiple Output Power Supply

    範圍   : Low Range 0 to 7V ,
          0 to 15mA   25W
    負載(調節): 0.5mV/0.005mA
          High Range 0 to 50V,
          0 to 500mA 25W
    負載(調節): 0.5mV/0.005mA
          Low Range 0 to 16V,
          0 to 200mA 50W
    負載(調節): 0.5mV/0.01mA
          High Range 0 to 50V,
          0 to 2A  50W
    負載(調節): 0.5mV/0.01mA   
 
漣波雜訊 CVp_p :0.5mV/3mV(rms/p_p)
準確度V/I      :0.016﹪/0.04﹪

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4、LCR電表(HP 4284A LCR Meter)


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5、脈衝/函數產生器(IWATSU SG4511)

Pulse/Function Generator


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6、計數器(ANRITSU MF1604A)

Counter


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7、多功能電表(HP 3458A)

Multimeter


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8、DC精密電壓源(HP 6114A)

Voltage Source


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9、DC精密電流源(HP 6117C)

Current Source


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10、電源供給器(HP E3615A/3610A)

Power Supply


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11、多功能電表(HP 34401A)

Multimeter


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12、邏輯脈衝產生棒(HP)

Logic Pulser


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13、邏輯棒(HP)

Logic Probe


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14、掌上型電表(HP E2377A)


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15、HP筆式繪圖機


16、數位電表(Fluke 8050A)

Multimeter


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